Как сообщил директор регионального центра оценки качества образования Анатолий Анисимов, регистрация на внешнее независимое оценивание начинается в понедельник 6 февраля и продлится до 17 марта.
Регистрация школьников в этом году будет проводиться через учебные заведения, в которых они обучались.
Тем, кто хочет самостоятельно пройди процедуру внешнего независимого тестирования необходимо зайти на сайт центра оценивания образования и создать регистрационную карту, следуя конкретным инструкциям. Затем распечатать ее и заполнить от руки. Прикрепить к ней копию паспорта или свидетельства о рождении, справку из школы или с места жительства (для переселенцев).
Весь пакет документов нужно отправить по почте в Одесский региональный центр оценивания качества образования. При условии правильного заполнения регистрационной карты, человеку придет уведомление, что он зарегистрирован, как участник ВНО. Исправить внесенные в регистрационную карту данные можно до 31 марта.
Кроме украинского тестирование можно сдавать на 7 других языках.
Основная сессия ВНО пройдет с 23 мая по 17 июня. В случае, если у кого-то не будет возможности пройти тестирование в данные сроки, следует указать это в регистрационной карте, чтобы получить допуск к дополнительной сессии.
Стабилизационные отключения электроэнергии, введенные по всей стране после очередной массированной атаки россиян на энергообъекты, продолжатся… Read More
Во вторник, 18 ноября 2025 года, в Одессе и области синоптики обнародовали обновленный прогноз погоды.… Read More
Две подруги решили отправиться в осенний поход на гору Парашка во Львовской области, однако путешествие… Read More
Днями историк и бывший руководитель Института национальной памяти Владимир Вятрович представил книгу про последнего командира… Read More
На юге Одесской области, в частности на территории Национального природного парка «Тузловские лиманы», массово растет… Read More
Входная дверь исторического доходного дома Михаила Гринберга, расположенного на улице Святослава Караванского (ранее Жуковского), вернула… Read More